Домівка

Геодезичні прилади. Практикум

Тревого І. С., Шевченко Т. Г., Мороз О. І.
Код: 978-966-553-906-3
Навчальний посібник. Друге видання, доповнене / За заг. ред. Т. Г. Шевченка. Львів: Видавництво Львівської політехніки, 2010. 236 с. Формат 145 х 215 мм. Тверда оправа.
Ціна:55,00грн.
Weight: 0 кг

Викладено основи досліджень геодезичних оптичних і електронних приладів. Описано конструкцію сучасних теодолітів, відлікові пристрої геодезичних приладів. Докладно подані дослідження відлікових пристроїв, рівнів та компенсаторів нахилу. Описано прийоми роботи сучасними електронними тахеометрами та нівелірами. У дослідженнях і перевірках кутомірних приладів та нівелірів достатньо уваги приділено електронним приладам, виділено особливості їхніх перевірок.
Для студентів і викладачів геодезичних спеціальностей, а також працівників геодезичних виробництв.
Рекомендувало Міністерство освіти і науки України як навчальний посібник для підготовки студентів вищих навчальних закладів за напрямом 6.0709 "Геодезія, картографія та землеустрій".

Зміст

Вступ.
1. Короткі відомості з геометричної оптики, про оптичні деталі та оптичні системи геодезичних приладів.
1.1. Закони геометричної оптики.
1.2. Матеріали оптичних деталей.
1.3. Оптичні деталі і системи, які найчастіше використовуються у геодезичних приладах.

2. Будова точних оптичних теодолітів.
2.1. Теодоліт 3Т2КП.
2.2. Теодоліт 3Т5КП.

3. Відлікові пристрої геодезичних приладів.
3.1. Штриховий мікроскоп.
3.2. Шкаловий мікроскоп.
3.3. Односторонній оптичний мікрометр.
3.4. Двосторонній оптичний мікрометр.
3.5. Відлікові пристрої електронних (кодових) кутомірних приладів.

4. Приклади роботи електронними тахеометрами.
4.1. Робота електронними тахеометрами GTS–233 (Topcon, Японія).
4.2. Робота на станції електронним тахеометром TCR 305 (Leica, Швейцарія).
4.3. Робота на станції електронним тахеометром SET 610 (Sokkia, Японія).

5. Відлікові пристрої нівелірів.
5.1. Відлікові пристрої оптичних нівелірів.
5.2. Відлічування в цифрових (електронних) нівелірах.

6. Дослідження відлікових пристроїв.
6.1. Визначення похибок суміщення штрихів круга.
6.2. Визначення систематичних похибок двосторонніх оптичних мікрометрів.
6.3. Визначення рену двостороннього оптичного мікрометра.
6.4. Визначення рену одностороннього оптичного мікрометра.
6.5. Визначення рену шкалового мікроскопа.
6.6. Дослідження оптичного мікрометра нівеліра.

7. Дослідження рівнів та компенсаторів нахилу.
7.1. Дослідження рівнів.
7.2. Дослідження компенсаторів нахилу.

8. Дослідження і деякі перевірки кутомірних приладів.
8.1. Дослідження ексцентриситетів осей оптичних теодолітів.
8.2. Визначення похибок діаметрів круга.
8.3. Перевірки та дослідження електронних приладів.

9. Дослідження і деякі перевірки нівелірів.
9.1. Дослідження рівнів рівневих нівелірів.
9.2. Визначення середньої квадратичної похибки прямовисного встановлення вертикальної осі нівеліра за допомогою встанівного рівня.
9.3. Визначення меж дії компенсатора нівеліра на екзаменаторі.
9.4. Визначення середньої квадратичної похибки встановлення візирного променя самовстанівного нівеліра.
9.5. Визначення систематичної похибки встановлення візирного променя самовстанівного нівеліра.
9.6. Перевірка і юстування горизонтальності візирного променя електронних нівелірів.
9.7. Перевірки і дослідження нівелірних рейок.
Список літератури.

»